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霉菌試驗箱的技術(shù)要求
2013-03-05
霉菌試驗箱適用于航空航天產(chǎn)品、材料、電子產(chǎn)品、各種電子元器件在濕熱環(huán)境下、檢測其各項性能指標。一、霉菌試驗箱產(chǎn)品性能1、試驗溫度和容許偏差為29℃±℃2、溫度梯度應(yīng)不大于1℃3、溫度波動度應(yīng)不大于1℃3、試驗箱內(nèi)的相對濕度不低于90%4、試驗箱內(nèi)的風速應(yīng)不大于1m/s二、霉菌試驗箱產(chǎn)品結(jié)構(gòu)及外觀要求1、工作室內(nèi)壁應(yīng)使用耐腐蝕的材料制造，表面應(yīng)易于清潔2、凝結(jié)水不允許滴落在工作空間內(nèi)。且應(yīng)連續(xù)排除，未經(jīng)允許不得作為加濕用水3、加熱元件的輻射熱不應(yīng)直接作用在試驗樣品...
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高低溫試驗箱低溫運行時需采用雙機制冷的原因
2013-03-04
高低溫試驗箱-40℃機型可以采用單級制冷循環(huán)，也可以采用復(fù)疊式制冷循環(huán)系統(tǒng)，尚測高低溫試驗箱-40℃及以下均采用雙機制冷，原因是單級制冷循環(huán)是靠調(diào)小壓縮機的膨脹閥開啟度，減小制冷劑流量限流來調(diào)低蒸發(fā)壓力，從而獲得更低的蒸發(fā)溫度的，這樣會影響壓縮機的壽命。同時，單機制冷還有以下方面的限制：一、制冷劑熱物理特性的限制現(xiàn)在高低溫試驗箱中單級制冷循環(huán)基本上采用的中溫制冷劑是R404A,在一個大氣壓下其蒸發(fā)溫度是-46.5℃（R22/-40.7℃），但空氣冷卻式冷凝器傳熱溫差通常取10...
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箱式淋雨試驗箱的結(jié)構(gòu)簡介
2013-03-04
箱式淋雨試驗箱適用于各種外殼防水試驗、IP等級防護試驗，如：汽車燈具、信號裝置、外部照明燈具、電機等，武漢尚測試驗設(shè)備有限公司箱式淋雨試驗箱外殼采用不銹鋼短發(fā)紋處理，工作室采用不銹鋼光板。試驗箱由主體部分、傳動機構(gòu)和電器部分組成。具體包括：旋管機構(gòu)、擺管、操作面板、工作臺、水箱、壓力表、水泵等，設(shè)計理念如下圖所示。箱式淋雨試驗箱是通過機械傳動，達到試驗?zāi)康?。轉(zhuǎn)臺傳動機構(gòu)是通過電動機帶動蝸桿，驅(qū)動蝸輪，達到規(guī)定轉(zhuǎn)速，擺管是電機帶動減速機減速帶動齒桿驅(qū)動被動齒輪，使擺管運動。
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高溫老化房如何設(shè)計才能確保保溫隔熱效果及溫度均勻？
2013-03-02
高溫老化房要根據(jù)電子產(chǎn)品及其他試驗對象的高溫老化的要求以及各單位的實際情況進行空間和結(jié)構(gòu)的布置和設(shè)計，其重點放在空間布置和絕熱設(shè)計上。武漢尚測試驗設(shè)備有限公司模擬設(shè)計的一款高溫老化房的平面布置如下圖所示。高溫老化房被分成2個部分，外間作為控制室，控制箱懸掛在控制室的墻上。內(nèi)間作為高溫老化房，是由絕熱材料形成的密閉空間。頂部采用鋼龍骨吊頂或庫板、彩鋼板密封，吊頂一角留有活動板以便維修人員進入頂部進行維護，控制室的控制線經(jīng)過吊頂上部，然后再分布到高溫老化室的各個部分。絕熱墻體采用...
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鹽霧試驗箱的操作流程
2013-03-01
一、首先將鹽霧試驗箱通電（插上插頭）二、按下紅色電源開關(guān)，鹽霧箱面板從左至右，分別為：低水位A燈亮、低鹽水B燈亮、低水位C燈亮。三、直接往試驗箱體內(nèi)倒入蒸餾水，待低水位A指示燈熄滅，停止加水。四、使用塑料量筒、玻璃棒、蒸餾水、氯化鈉等等，按照試驗要求，配置鹽溶液。五、打開標有“試藥入口”的箱蓋，將配置好的溶液倒入，待低鹽水B指示燈熄滅，停止加溶液。六、打開“壓力桶手動加水處”閥門（紅色旋鈕，擰到豎直為開）。加入蒸餾水，待低水位C指示燈熄滅，停止加水。關(guān)上閥門。七、打開試驗箱箱...
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材料人工加速老化性能評價指標
2013-02-28
材料人工加速老化性能評價指標主要從材料的用途及材料本身特性兩方面來考慮。一、根據(jù)材料用途確定評價指標對于同樣的材料，由于其用途不同，可能選擇的評價指標也不同。例如，同樣是涂料，如果是用于裝飾，就必須重點考慮其外觀的變化。在GB/T1766—1995《色漆和清漆涂層老化的評級》中，詳細規(guī)定了光澤度、顏色變化、粉化、泛金等各種外觀變化的評級方法（鹽霧腐蝕試驗）。而對于某些功能性涂料，如防腐涂料，一定程度的顏色、外觀變化是可以接受的，這時，選擇評價指標時，主要考慮其耐開裂性、粉化程...
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高溫老化的機理是什么？
2013-02-27
我們知道，電子產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時，有時候不可避免的存在設(shè)計缺陷，比如因為成本和技術(shù)的原因?qū)е碌脑O(shè)計缺陷，以及采用的原材料或工藝方法、措施方面的原因引起產(chǎn)品的質(zhì)量問題。歸結(jié)這類質(zhì)量問題有兩類，第1類是產(chǎn)品的性能指標、參數(shù)不達標，生產(chǎn)出來的產(chǎn)品滿足不了使用要求；第2類是沒有暴露出來的潛在的缺陷，這類缺陷不能用普通的測試檢測手段發(fā)現(xiàn)，而需要在使用過程中逐漸地被暴露，如硅片組織不穩(wěn)定、表面污染、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配不良等。一般這類產(chǎn)品缺陷需要在采用的元器件工作于額定功率和正常工...
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電子產(chǎn)品高溫老化的作用
2013-02-26
我們知道，隨著電子制造技術(shù)的發(fā)展，電子產(chǎn)品的集成化程度是越來越高，工序越來越多，結(jié)構(gòu)也越來越細微，制造工藝越來越復(fù)雜，這么多復(fù)雜的因素必然會導(dǎo)致在電子產(chǎn)品制造過程中產(chǎn)生潛伏的缺陷。生產(chǎn)和生活中，無論是生產(chǎn)用電子產(chǎn)品，還是消費類電子產(chǎn)品，作為一個好的電子產(chǎn)品，它不但要求要具有較高的各項性能方面的指標，而且還要有較高的產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定性。電子產(chǎn)品的穩(wěn)定性取決于三大因數(shù)：1、采用的元器件的性能，2、產(chǎn)品設(shè)計的合理性，3、整機制造工藝等因素。現(xiàn)在，世界上普遍采取高溫老化工藝來提高電子產(chǎn)...
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